超声波试块

CSK-A、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超声波试块

供应CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIA、CSK-IVA、CSK-IB超声波试块，同时供应CSK-IA试块支架，CSK-IIIA试块翻转架、CSK-IB试块支架。

该类试块依据承压设备I型焊接接头超声检测要求而设计，适用于将斜探头、直探头检测工件厚度范围为6mm～200mm的Ⅰ型焊接接头。试块设计内容见下表：

CSK-ⅡA-2#测试方法：（1）横波灵敏度的设定：将选用已校验好的的斜探头置于示意图中a位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第一点。探头置于示意图中b位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第二点。探头置于示意图中c位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第三点。探头置于示意图中d位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第四点。探头置于示意图中e位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第五点。探头置于示意图中f位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第六点。探头置于示意图中g位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第七点。探头置于示意图中h位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第八点。探头置于示意图中i位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第九点。探头置于示意图中j位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第十点。将以上十点连成一条曲线即为标准中规定的基准线。

（2）纵波灵敏度设定：将选用已校验好的直探头置于示意图中k位置，前后左右移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第一点。探头置于示意图中l位置，前后左右移动探头使直射声束在φ2×40mm横孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第二点。探头置于示意图中m位置，前后左右移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第三点。探头置于示意图中n位置，前后左右移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第四点。探头置于示意图中o位置，前后左右移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第五点。探头置于示意图中p位置，前后左右移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第六点。探头置于示意图中q位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第七点。探头置于示意图中r位置，前后移动探头使直射声束在φ2mm横通孔上得到大反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第八点。将以上八点连成一条曲线即为